
半導体・IC
NGI は、半導体材料から半導体コンポーネントに至るまで、半導体検査の業界チェーン全体をカバーしています。特にNGIは、半導体総合試験用の国家初の高精度デジタルソースメーターセットを開発しました。
適用シナリオ | DUT | テストパラメータ | テスト項目 | 製品をお勧めします |
半導体組立て 材料特性分析 エネルギー効率と照明 受動部品 ナノ材料とデバイス 等々 | ICチップ(RF CPU AFE MCU ADC BMIC) ダイオードMOS管 光電センサ LED/AMOLED 太陽電池・太陽電池 等々 | 比抵抗分析 ホール特性解析 ウェーハ分析 等々 | 過電流 能力テスト 漏れ試験 老化テスト 故障試験 等々 | N2600 N9244 N23010 N23020 等々 |