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From semiconductor material to semiconductor component, NGI covers the entire industry chain of the semiconductor testing. Especially, NGI has developed the first set of national high-precision digital source meters for semiconductor comprehensive testing.


適用シナリオDUTテストパラメータテスト項目製品をお勧めします
半導体組立て
材料特性分析
エネルギー効率と照明
受動部品
ナノ材料とデバイス
等々
ICチップ(RF CPU AFE MCU ADC BMIC)
ダイオードMOS管
光電センサ
LED/AMOLED
太陽電池・太陽電池
等々
比抵抗分析
ホール特性解析
ウェーハ分析
等々



ターンオン電圧試験
過電流
能力テスト
漏れ試験
老化テスト
故障試験
等々


N2600
N9244
N23010
N23020
等々

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